高灵敏度与易用性兼备

NanoAir™凝结核粒子计数器

这款专为超洁净环境设计的10nm凝结核粒子计数器,可提供实时环境监测。提升设备运行时间,提高良率。

Ticked bullet point 紧凑型设计,适用于半导体工艺设备内部监测,占用空间小。

Ticked bullet point 提供12个月不间断且免维护监测,支持全天候连续测量。

Ticked bullet point 适用于超洁净环境监测的凝结核粒子计数器,误计数率表现优异,数据可靠性高。

产品细节

采用NanoAir™ 10凝结核粒子计数器(CPC),有效降低关键区域的污染,提升良品率。

多通道监测可用

这是唯一专为纳米颗粒运输和输送设计的歧管系统。

配套的10端口歧管产品(ParticleSeeker™)支持需要对多个样品位置进行顺序或程序化监测的应用场景。

10端口多路复用系统仅需单个CPC即可覆盖整个EFEM/微环境。通过该多路复用系统可实现120平方英尺的覆盖范围。

端口切换时间低至0.1秒,最大限度减少串扰。该多路复用器支持多种运行模式:

  • 设备认证
  • 工艺/流程追踪
  • 集成晶圆厂事件自动响应
  • 工艺设备内晶圆追踪

体积缩小83%

监测可在洁净环境的任何位置进行,包括半导体工艺设备内部及设备前端模块(EFEM)——这款CPC计数器比同类产品小83%。

轻松访问数据

通过我们的FacilityNet颗粒监测软件,数据可快速查看、分析并生成报告,亦可通过MODBUS以太网协议直接传输至第三方SCADA系统或工艺工具。0.1秒的超短采样间隔实现精准控制,并提供可操作的工艺洞察。

高压气体兼容

当与HPD-III配合使用时,NanoAir 10可实现对10纳米级高压惰性气体的分析,确保进入关键环境的气体具备卓越的颗粒污染控制能力。

误计数率低

NanoAir 10 没有零计数扣除机制。每个颗粒物都会被检测并计数,确保在超洁净环境中实现无与伦比的性能。

该仪器拥有市场上所有CPC设备中最佳的误计数率(≤1.5#/m³)。

资源

Technicians in cleanroom gear inspecting a semiconductor wafer beside computer equipment on the production floor.

NanoAir 10在半导体制造中的应用

了解如何在半导体制造敏感区域使用凝结核颗粒计数器,帮助识别和控制污染,助力提升良率。

配件

Particleseeker Airborne Particle Counter

ParticleSeeker™ 多口气溶胶采样器

High Pressure Diffuser

HPD™II 高压扩压器

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