了解高效的空气分子污染监测故障排解技术
日期：2016年7月28日
时间：美国时间10:00 AM，中央标准时间11:00 AM，太平洋时间9:00 AM，格林威治标准时间4:00 PM
减少监测时间，控制和减少低水平的空气分子污染(AMC)对高科技制造商是至关重要的。众所周知的空气分子污染相关质量问题和产品损耗的相关成本，和适当减少AMC对清洁制造商保持竞争力是至关重要的。
技术人员需要在任何洁净环境中运用良好的时空分辨率来高效地收集AMC数据的灵活性，为了在故障排解事件中保持采样计划和收集指定站点数据集中于AMC来源一致。Dan Rodier博士将会提供AMC简要概述以及在洁净室内最新的高效识别AMC来源的技术。.
发言人：Dan Rodier博士，粒子监测系统电子部门技术开发经理
Rodier博士拥有科罗拉多大学的分析化学博士学位，以及拥有25年的测量空气分子种类和粒子污染的开发和实施技术和对策的经验。他曾与亚洲、欧洲和北美的电子、磁盘驱动器和显示器行业的客户完成过监测项目。